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产品介绍

光学测试设备

TR7900Q SII

INTRODUCTION

25 MP/2.5 μm高分辨率智能工厂3D SEMI AOI 解决方案TR7900Q SII,具备AI演算法和量测功能可提升检测效益,专为半导体和先进封装业所设计,能够检测高达15 μm (0.6 mil)的线径。TR7900Q SII走停式取像技术,可以检测黏晶、球接合、带状接合、楔形键合、SiP、填充胶、SMD、凸块和锡点;完善整合装载/卸载模组,可便于采用输送基板和弹匣。
• 打线接合与黏晶先进封装缺陷检测
• 2.5 μm 量测等级*技术高分辨率 3D AOI
• 内建弹匣装载/卸载输送装置
• 打线检测 AI演算法技术支持*
• 可检测小至 15 μm 的金/铝/银/铜线
• 接合检测:球形接合、楔形接合、带状接合
• 短波红外线(SWIR) 照明检测内部裂缝和碎裂*
• 无尘环境等级 1000 - ISO 等级 6 (ISO 14644-1)

*选配项目