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产品介绍

自动光学检测机 (AOI)

TR7700QM SII

INTRODUCTION

3D AOI TR7700QM SII建立在具有12 MP取像技术、5.5 µm高分辨率的高精度平台上,适用于半导体和封装行业。 一站式的TR7700QM SII能够检测打线接合、黏晶、SMD、凸块和锡点, TR7700QM SII智能解决方案亦通过量测功能和灵活的检测演算法,提升了检测的精准度。
• 半导体和封装技术检测
• 5.5μm分辨率超高精度量测等级检测
• 可通过TRI智能编程进行检测
• 多种3D技术可进行完整覆盖率检测