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产品介绍

光学测试设备

TR7720S

INTRODUCTION

TR7720S是一款专为半导体与封装行业设计的小型AI驱动 AOI,可用于检测打线接合、黏晶、SMD和锡点。5.5 μm高分辨率解决方案TR7720S拥有先进测量技术和强化的机械结构,可提供精确和准确的检测结果,能够检测高达50 μm(2mil)的线径。
• 打线接合与黏晶高级封装缺陷检测
• 5.5 μm 高分辨率小型 AOI
• 打线缺陷检测人工智能检测演算法*
• 提升数据可追溯性的量测等级*技术
• 可检测小至 50 μm 的金/铝/银/铜线
• 接合检测:球形接合、楔形接合、带状接合
• 智能工厂实时 SPC 趋势追踪

*选配项目