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솔루션

반도체 검사 (SEMI)

TR7720S

INTRODUCTION

TR7720S는 와이어 본딩, 다이 본딩, SMD 및 솔더 조인트의 반도체 및 패키징 검사를 위해 AI에 기반한 Compact AOI입니다. Metrology measurements과 튼튼한 메카니컬 구조로 강화된 TR7720S는 정확하고 정밀한 결과를 제공합니다. 5.5 μm 고해상도 AOI는 와이어 직경 최대 50 μm(2 mill)를 검사할 수 있습니다.
• 와이어 본딩 및 다이 본딩을 위한 첨단 패키지 불량 검사
• 5.5 μm 고해상도 컴팩트 AOI
• 와이어 불량검사를 위한 AI 기반 검사 알고리즘*
• 데이터 추적성에 도움이 되는 Metrology-grade 검사*
• 50μm 이하 Au, Al, Ag, Cu 와이어 검사
• 본드검사 : 볼본드, 웨지본드, 리본본드
• Smart Factory Ready - 실시간 SPC Trends
*옵션 모듈