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솔루션

ICT(In-Circuit Tester, 회로판 테스트 장비)

TR8100LV

TR8100LV
  • TR8100LV
TR8100LV

INTRODUCTION

복잡한 대형 PCBA 테스트용으로 설계된 TR8100LV는 TRI 제품 중에서도 최고급 기판 테스트 시스템으로 저전력 테스트 시장을 대상으로 합니다. TR8100LV의 진공 시스템은 MUX 없는 최대 3584핀 디지털 아키텍처로 완전 핀 접촉을 보장하고, 핀 개수가 많은 장치를 더욱 빠르고 간단하게 테스트할 수 있으며, 빠른 프로그램 개발이 가능합니다. 바운더리 스캔과 접근이 제한된 기판을 대상으로 한 솔루션을 조합한 *TRI ToggleScan® & VregTest®기술이 내장되었습니다. *"ToggleScan®" & "VregTest®" 은 Test Research, Inc.의 등록상표입니다.
  •  • 핀당 디지털 1:1 드라이버/수신기 아키텍처 설계
     • 진공 고정 장치가 포함된 고장 고검출 테스트 솔루션
     • 저전압 장치 테스트 및 빠른 테스트 속도
     • 친숙한 UI로 빠르고 손쉬운 프로그램 개발 가능