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Teste In-Circuit (ICT)

TR5001V SII SERIES

TR5001QV SII
  • TR5001QV SII
TR5001QV SII

INTRODUCTION

A solução de vácuo multicore ICT + FCT mais avançada para testes paralelos. TR5001V SII SERIES oferece desempenho revolucionário com até 4 núcleos independentes para altos níveis de produção. Inclui uma interface de desconexão rápida (QDI) de longa duração, juntamente com autocalibração e autodiagnóstico integrados para garantir a confiabilidade dos testes de longo prazo. O TR5001V SII SERIES funciona com o software de programação inteligente baseado em fluxo da TRI para facilidade de uso.
• Nova geração do multi-núcleo flexível de teste paralelo
• Solução de teste de alta cobertura de falha com acessório a vácuo
• Arquitetura 1: 1 por pino sem multiplexação
• MDA escalonável a ICT e Teste funcional (FCT)
• ICT de alta precisão e alto desempenho
• Interface de desconexão rápida de longa duração (QDI)