We use cookies to improve your user experience and for web traffic statistics purposes. By continuing to use this website, you agree to our use of cookies. Our Privacy & Cookie Policy contains more information on such use and explains how to disable cookies.
您欲前往的語系無此筆資料或無販售此產品,請選擇 [是] 前往=A=網頁瀏覽,或選擇 [否] 繼續前往=B=網頁瀏覽,或點選右上角X關閉視窗停留在原頁面
關於我們 產品介紹 新聞中心 客戶服務 投資人關係

產品介紹

光學測試設備

TR7007Q SII-S

INTRODUCTION

TR7007Q SII-S 建立於 3.5 μm 高解析度平台,採用 25 MP成像技術,專為 SEMI 後段製程、Mini-LED、C4 凸塊( ~ 100 μm Ø)和 008004 錫膏檢測應用而設計。此系統具備更高的準確度與穩定性,可實現精確的錫膏量測並將誤判率降至最低。TR7007Q SII-S 配備寬光譜光源系統與同軸照明,以提高多種業界應用的缺陷檢測率。這款 3D SEMI SPI 支援現行的智慧工廠標準,包括 IPC-CFX 和 Hermes 標準(IPC-HERMES-9852)。

應用領域:凸塊、助焊劑、膠水、Mini-LED 焊錫、錫膏、表面

• 3.5 μm High-Resolution 3D SEMI Back-end, Mini-LED and 008004 solder inspection
• Advanced Wide Spectrum Light for Enhanced Contrast and Detection Rate
• Improved Accuracy and Stability for Precise Solder Measurements
• High Precision Inspection for Multiple Applications
• Industry 4.0 Ready Platform
• Ensures clean operation with HEPA Filter*

*Optional