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產品介紹

光學測試設備

TR7700Q SII-S

INTRODUCTION

TR7700Q SII-S 建立於 2.5 μm 高解析度平台,採用 25 MP 成像技術,專為半導體與先進封裝產業而設計。AI 驅動的演算法與計量功能增強了智能 3D AOI 解決方案的效益。這款 3D SEMI AOI 解決方案可檢測直徑低至 15 μm(0.6 mil)的線徑,並支援目前的智慧工廠標準,包括 IPC-CFX 和 Hermes 標準(IPC-HERMES-9852)。

檢測項目包括:打線鍵合、晶片鍵合、球形鍵合、帶狀鍵合、楔形鍵合、系統級封裝(SiP)、底部填膠、表面黏著元件(SMD)、凸塊以及錫點。                                              

• 2.5 μm High-Resolution 3D SEMI Back-end AOI
• Precise Metrology-Grade Measurements*
• AI-powered Inspection with AI Smart Programming*
• Inspection of Au, Al, Ag, and Cu Wires down to 15 μm dimensions
• Bond Inspection: ball bond, wedge bond, and ribbon bond
• Shortwave Infrared (SWIR) Lighting to detect inner cracks and chipping*
• Industry 4.0 Ready Platform

*Optional