We use cookies to improve your user experience and for web traffic statistics purposes. By continuing to use this website, you agree to our use of cookies. Our Privacy & Cookie Policy contains more information on such use and explains how to disable cookies.
あなた使っている言語系でご覧にしたい製品の情報がないか或は販売していないかになっております。[=A=]を選択すると英語系ウェブブラウザに切り替えの英語の製品情報をご覧になれます。[=B=]を選択すると継続に日本語ウェブサイトで製品情報をご覧になります。または右上のXをクリックし、ウィンドウを閉じて元のページに戻ります。
  • =A=
  • =B=
会社紹介 装置ラインアップ ニュース カスタマーサービス IR 情報

装置ラインアップ

Semiconductor Inspection (SEMI)

TR7700Q SII-S

INTRODUCTION

The TR7700Q SII-S is the next-generation AI-powered Inspection platform for the Semiconductor & Advanced Packaging Industry. The 3D SEMI AOI is enhanced with metrology capabilities and multiple imaging technologies to achieve full coverage inspection. The 2.5 μm High Resolution platform solution can inspect wire diameters of up to 15 μm (0.6 mil). The 3D AOI supports current Smart Factory Standards, including IPC-CFX and The Hermes Standard (IPC-HERMES-9852).

Inspection for: wire bonding, die bonding, ball bonding, ribbon bond, wedge bond, SiP, underfill, SMD, bumps, and solder joints.


• 2.5 μm High-Resolution 3D SEMI Back-end AOI
• Precise Metrology-Grade Measurements*
• AI-powered Inspection with AI Smart Programming*
• Inspection of Au, Al, Ag, and Cu Wires down to 15 μm dimensions
• Bond Inspection: ball bond, wedge bond, and ribbon bond
• Shortwave Infrared (SWIR) Lighting to detect inner cracks and chipping*
• Industry 4.0 Ready Platform

*Optional