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ハイエンド インサキットテスター

TR8100LV

TR8100LV
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TR8100LV

INTRODUCTION

大型で複雑なPCBアセンブリテスト用に設計されたTR8100LVは、低電圧テストを得意としたICTです。 真空接続システムで全てのピンの接触を確実なものにし、最大3584ピンまでのデジタルMUX設定を 可能にしました。より、ピン数が多いデバイスに対して迅速かつシンプルなテストと簡易プログラミング を実現します。テストアクセスが制限されている基板には、※TRI ToggleScan&VregTest技術が解決します。 ※「TRI ToggleScan」& 「VregTest」はTest Reseach, Incの登録商標です。
• ピンアーキテクチャ毎デジタル1:1ドライバ/レシーバアーキテクチャ設計
• 真空フィクスチャによる高故障検出率テストソリューション
• 低電圧デバイステスト、高速試験
• 簡単迅速プログラミングユーザーインタフェース