We use cookies to improve your user experience and for web traffic statistics purposes. By continuing to use this website, you agree to our use of cookies. Our Privacy & Cookie Policy contains more information on such use and explains how to disable cookies.
あなた使っている言語系でご覧にしたい製品の情報がないか或は販売していないかになっております。[=A=]を選択すると英語系ウェブブラウザに切り替えの英語の製品情報をご覧になれます。[=B=]を選択すると継続に日本語ウェブサイトで製品情報をご覧になります。または右上のXをクリックし、ウィンドウを閉じて元のページに戻ります。
  • =A=
  • =B=
会社紹介 装置ラインアップ ニュース カスタマーサービス IR 情報

装置ラインアップ

Optical Inspection

TR7700QE-S

INTRODUCTION

TR7700QE-Sは、半導体・パッケージング業界向けの5.5μmの高解像度12 MPイメージング技術と高精度なプラットフォーム上に装備されています。 Stop&Go 3D AOIは、ワイヤーボンド、ダイボンド、SMD、バンプ、はんだ接合部を検査できます。 スマート3D AOIソリューションの精度は、計測機能と柔軟な検査アルゴリズムによって強化されています。
• 半導体およびパッケージング技術検査
• 超高精度 Stop&Go 3D AOI
• ワイヤーボンディングおよびダイボンディングの不良検査
• TRIのスマート検査ライブラリーで数分で検査準備