We use cookies to improve your user experience and for web traffic statistics purposes. By continuing to use this website, you agree to our use of cookies. Our Privacy & Cookie Policy contains more information on such use and explains how to disable cookies.
您欲前往的語系無此筆資料或無販售此產品,請選擇 [是] 前往=A=網頁瀏覽,或選擇 [否] 繼續前往=B=網頁瀏覽,或點選右上角X關閉視窗停留在原頁面
關於我們 產品介紹 新聞中心 客戶服務 投資人關係

產品介紹

自動光學檢測機 (AOI)

TR7700QM SII

INTRODUCTION

3D AOI TR7700QM SII建立在具有12 MP取像技術、5.5 µm高解析度的高精度平台上,適用於半導體和封裝行業。 一站式的TR7700QM SII 能夠檢測打線接合、黏晶、SMD、凸塊和錫點, TR7700QM SII智能解決方案亦通過量測功能和靈活的檢測演算法,提升了檢測的精准度。
• 半導體和封裝技術檢測
• 5.5μm解析度超高精度量測等級檢測
• 可透過TRI智能編程進行檢測
• 多種3D技術可進行完整覆蓋率檢測