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NEWS2026/04/27

AI 驅動檢測解決方案將於 2026 NEPCON China 亮相
TRI productronica China 2026[April 27, 2026 – Taipei, Taiwan] 德律科技股份有限公司 (TRI) 為全球領先的電子製造檢測解決方案供應商 ,將於 2026 年 6 月 2 日至 4 日在上海世博展覽館參加 NEPCON China 2026 展會 。誠摯邀請您蒞臨 #1G80 展位 ,親身體驗電子製造、半導體及先進封裝產業所研發的新檢測技術 。

德律科技 2026 年的展示陣容重點在於 AI 驅動 的檢測解決方案 ,涵蓋從錫膏檢測 (SPI) 到全方位 X-Ray 檢測 (AXI) 的完整範疇 。

以下為德律科技於展位現場重點展示的機型:

TR7007Q SII-S:專為後段凸塊 (Back-end Bump)、C4 凸塊 (直徑約 100 μm) 以及 008004 錫膏檢測所設計 。
TR7700QH SII:超高速 3D AOI (自動光學檢測) 設備,檢測速度高達每秒 80 cm²,展現業界領先的效能 。
TR7500QE Plus:多角度 3D AOI,配備四個側面相機與一個頂部相機,提供全方位的檢測覆蓋率 。
TR7600FB SII:具備全新影像結構設計的 3D CT AXI ,能有效應用於多樣化的產品布局需求 。
TR5001 SII Inline:模組化多核心在線型電路板測試儀 (ICT) 。


歡迎蒞臨 #1G80 展位,深入了解為何全球領先的 EMS 製造商選擇 TRI,並將其視為值得信賴的測試與檢測合作夥伴 。


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關於德律科技 (TRI)
德律科技股份有限公司(TRI)提供具成本效益的製造測試與檢測整體解決方案,涵蓋從光學檢測到電路板測試的完整需求。更多資訊請造訪 http://www.tri.com.tw。 銷售與服務洽詢請來信:marketing@tri.com.tw,或致電 +886-2-2832-8918。