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Soluciones

Probador de circuito (ICT)

TR5001 SII

INTRODUCTION

La próxima generación de ICT+FCT en paralelo ofrece un rendimiento revolucionario de prueba paralela Multi-núcleo con hasta 4 núcleos independientes de alto rendimiento. Ofreciendo una mejorada y precisa medición, el TR5001Q/D SII la nueva incorporación de auto-calibración y el autodiagnóstico garantizan la confiabilidad de las pruebas a largo plazo.  

 
• Nueva Generación de Tester en Paralelo de Multi-Núcleo Flexible
• Controlador de prueba en serie de última generación con hasta 8 puertos en cualquier pin
• Solución de acceso limitado y ampliación de pruebas funcionales mediante módulos PXI
• Autodiagnóstico incorporado y función de Auto-Calibración
• Medición y pruebas de alta precisión
• Interfaz de usuario intuitiva con desarrollo fácil de programa basado en flujo
• Auto-calibration by DMM