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[September 19, 2025 – Shenzhen, China] 全球领先的电子制造检测解决方案供货商 — 德律科技 (TRI)，将于 2025 年 10 月 28 日至 30 日 在 深圳国际会展中心 盛大举行的 NEPCON Asia 展会中亮相。诚挚邀请您莅临 11E60 展位，体验 TRI 先进且灵活的检测解决方案，协助您大幅提升产线良率。

本次展会 TRI 将重磅展示 全新 3D X-ray 自动光学检测设备 TR7600FB SII。该系统采用创新 X-ray 成像架构，专为多样化产品布局设计，并针对特殊基板、BGA、多层结构及 SiP 等应用进行优化。TR7600FB SII 最大特点是能让 X-ray 光管极致贴近电路板进行高解析检测，且不受结构干扰，成为检测关键组件的理想选择。展出产品还包括 高功率 CT X-ray 检测系统 TR7600HP，专为功率模块检测而设计，涵盖 IGBT、MOSFET 及 SiC 逆变器等应用。

此外，TRI 亦将展出多款高性能光学与电测设备，如:超高速 3D AOI TR7700QH SII，其检测速度高达 80 cm²/秒、多角度 3D AOI TR7500QE Plus、升级版 3D SPI TR7007Q SII，其配备 25MP 与 10 µm 的全新光学架构、多核心 ICT TR5001 SII INLINE，以及高针数电路板测试系统 TR8001 SII，专为电信与数据中心应用打造。

凭借完整的检测技术与可靠的解决方案，TRI 已成为全球众多EMS制造商的首选合作伙伴。诚挚邀请您莅临 NEPCON Asia 11E60 展位，探索 TRI 如何助力电子制造迈向智能工厂与高效产能。
 

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关于德律科技( TRI)

德律科技(TRI)提供业界强大的自动测试与检测解决方案产品组合，涵盖从光学检测到电路板测试等全方面需求。TRI提供具成本效益的解决方案，以满足各种制造测试和检测需求。欲了解更多详情，请访问TRI官方网站http://www.tri.com.tw。如需销售和服务等相关信息，欢迎致信marketing@tri.com.tw或致电至+886-2-2832 8918。