[September 19, 2025 – Shenzhen, China] 全球領先的電子製造檢測解決方案供應商 — 德律科技 (TRI),將於 2025 年 10 月 28 日至 30 日 在 深圳國際會展中心 盛大舉行的 NEPCON Asia 展會中亮相。誠摯邀請您蒞臨 11E60 展位,體驗 TRI 先進且靈活的檢測解決方案,協助您大幅提升產線良率。
本次展會 TRI 將重磅展示 全新 3D X-ray 自動光學檢測設備
TR7600FB SII。該系統採用創新 X-ray 成像架構,專為多樣化產品佈局設計,並針對特殊基板、BGA、多層結構及 SiP 等應用進行最佳化。TR7600FB SII 最大特點是能讓 X-ray 光管極致貼近電路板進行高解析檢測,且不受結構干擾,成為檢測關鍵元件的理想選擇。展出產品還包括 高功率 CT X-ray 檢測系統
TR7600HP,專為功率模組檢測而設計,涵蓋 IGBT、MOSFET 及 SiC 逆變器等應用。
此外,TRI 亦將展出多款高性能光學與電測設備,如:超高速 3D AOI
TR7700QH SII,其檢測速度高達 80 cm²/秒、多角度 3D AOI
TR7500QE Plus、升級版 3D SPI
TR7007Q SII,其配備 25MP 與 10 µm 的全新光學架構、多核心 ICT
TR5001 SII INLINE,以及高針數電路板測試系統
TR8001 SII,專為電信與數據中心應用打造。
憑藉完整的檢測技術與可靠的解決方案,TRI 已成為全球眾多EMS製造商的首選合作夥伴。誠摯邀請您蒞臨 NEPCON Asia 11E60 展位,探索 TRI 如何助力電子製造邁向智慧工廠與高效產能。