새 소식

TRI가 2015 중국 NEPCON에서 검사 분야의 밝은 미래를 보여드립니다.

[2015년 3월 20일 – 대만 타이베이] Test Research, Inc.(TRI)가 2015 중국 NEPCON 박람회에서 차세대 SPI, AOI, AXI 및 ICT 검사 솔루션을 선보일 예정입니다. 2015년 4월 21~23일, 상하이 월드 엑스포 컨벤션 센터 1관 부스 B-1F20을 방문하시면 PCBA 검사의 최신 기술을 개별적으로 보여드릴 것입니다.

TRI의 2015 포트폴리오에는 비용 대비 성능이 우수하며 최대 정확도를 보여주도록 설계된 신형 TR7007Q 스톱 앤 고 SPI 시스템도 포함됩니다. 또한, 2015년에는 TRI 3D AXI 시스템을 위한 고유의 CT 업그레이드를 출시함으로써 3D CT 검사에 수상 경력에 빛나는 X선 검사 시리즈가 도입됩니다. 전체 시연된 검사와 테스트 범위에는 고속 TR7500 SIII 3D AOI와 격찬을 받고 있는 병렬 테스트를 갖춘 인라인 및 데스크톱 배포용 ICT 솔루션이 포함됩니다.

TRI의 다양한 PCBA 테스트 솔루션 제품들이 서로 어떤 식으로 함께 작용하여 생산 라인에서 최대의 가치를 끌어내고 생산 비용을 최소화하는지 직접 알아보세요. SPI, AOI, AXI, MDA 및 ICT 등 각종 제품을 총망라하는 TRI 시스템은 다른 제조업체 장비와 상호 운용되도록 설계되어서 시스템 중단 시간을 최소화하고, 생산 품질을 최적화하며, 작업자의 작업 부담을 줄여줍니다. B-1F20 부스를 찾아주시면 TRI의 솔루션 제품군을 개별적으로 둘러볼 수 있는 개인 투어가 마련되어 있습니다.

TRI 소개

TRI는 자동 테스트 및 검사 솔루션 산업 부문에서 가장 안정적인 제품 포트폴리오를 제공합니다. 솔더 페이스트 검사(SPI), 자동 광학 검사(AOI), 3D 자동 X선 검사(AXI) 시스템에서 제조 결함 분석기(MDA), ICT에 이르기까지 TRI는 각종 제조 테스트 및 검사 요구 사항에 맞춰 가장 비용 효율적인 솔루션을 제공합니다. 자세한 정보는 http://www.tri.com.tw를 방문하십시오. 판매 및 서비스 정보를 알아보려면 sales@tri.com.tw로 문의하거나 +886-2-2832-8918로 전화하십시오.