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TRI, NEPCON Japan 2015에 최신 고성능 테스트 및 검사 시스템 소개

[2014년 12월 16일 - 대만 타이베이] Test Research, Inc.(TRI)는 전자 장치 제조 산업을 이끄는 검사 및 테스트 시스템 제공업체이며, 다가오는 2015년 1월 14일~16일에 도쿄의 Tokyo Big Sight에서 열리는 NEPCON Japan 2015에서 새로 출시된 PCBA 테스트 및 검사 솔루션을 선보일 예정입니다. 2015년 포트폴리오에서 주목할 제품 중에는 TR7007Q라는 초정밀 쿼드 프로젝터 3D SPI 시스템과 세계에서 가장 빠른 3D AOI 시스템인 TR7500 SIII 3D, 그리고 최상의 검사 성능과 품질을 위해 특별히 제작된 TR7600X SII 3D AXI 솔루션 등이 있습니다. 검사 시스템 제품군에 더하여 TRI의 베스트셀러인 TR5001T SII TINY ICT와 TINY SII INLINE ICT(회로판 테스트 장비)도 함께 자리할 계획입니다. TRI의 영업 및 마케팅 부서 부사장인 Jim Lin은 올해의 NEPCON Japan에서 선보일 제품 구성에 대해 이렇게 언급했습니다. "TRI는 맞춤 지능형, 통합형 솔루션에 혁신적인 기술과 세계적인 지원 네트워크를 조합해 고객 여러분께 최대의 가치를 전달하고 성능을 보장하는 데 주안점을 두고 있습니다. 저희가 새로 내놓은 솔루션은 최상의 성능과 우수한 가치를 함께 전달하는 데 주안점을 두고 있으며, 각기 다른 고객의 수요에 부응하는 데 총력을 기울였습니다."

TR7007Q 3D SPI

TRI 부스 번호는 EAST 23~28(東 23-28)입니다. 저희 부스를 방문하셔서 개인 투어를 이용하시면 TRI의 통합형 테스트 및 검사 솔루션을 편안히 둘러보실 수 있습니다. TRI의 다양한 PCBA 테스트 솔루션 제품들이 서로 어떤 식으로 함께 작용하여 생산 라인에서 최대의 가치를 끌어내고 생산 비용을 최소화하는지 직접 알아보세요. SPI, AOI, AXI, MDA 및 ICT 등 각종 제품을 총망라하는 TRI 시스템은 다른 제조업체 장비와 상호 운용되도록 설계되어서 시스템 중단 시간을 최소화하고, 생산 품질을 최적화하며, 작업자의 작업 부담을 줄여줍니다.

TRI 소개
TRI는 자동 테스트 및 검사 솔루션 산업 부문에서 가장 안정적인 제품 포트폴리오를 제공합니다. 솔더 페이스트 검사(SPI), 자동 광학 검사(AOI), 3D 자동 X선 검사(AXI) 시스템에서 제조 결함 분석기(MDA), ICT에 이르기까지 TRI는 각종 제조 테스트 및 검사 요구 사항에 맞춰 가장 비용 효율적인 솔루션을
제공합니다. 자세한 정보는 http://www.tri.com.tw를 방문하십시오. 판매 및 서비스 정보를 알아보려면 sales@tri.com.tw로 문의하거나 +886-2-2832-8918로 전화하십시오.