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[September 16, 2025 – Taipei, Taiwan] 德律科技（TRI, TWSE: 3030）參與2025 SEMICON Taiwan 經濟部館展出，與工業技術研究院（ITRI）合作的技術獲選為重要創新亮點。

在展會記者會上，工研院正式發表 WLI（白光干涉）陣列檢測解決方案。此技術針對先進封裝日益增長的高速與高精度檢測需求而設計，採用全台首創的微型化陣列透鏡，能將檢測視野擴大四倍，檢測產能提升至傳統系統的十倍，同時維持奈米級精準度。
 
德律科技副總林江淮表示：「很榮幸我們與工研院的合作技術能在 SEMICON Taiwan 2025 獲得肯定，並成為展會的重要焦點之一。」
 
欲了解更多德律科技檢測解決方案，請參閱以下連結:
https://www.tri.com.tw/en/product/product.html.