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TRI が未来の検査を NEPCON China 2015 にお届けします

[2015年3月20日 – 台北(台湾)] Test Research, Inc. (TRI) は新世代のSPI、AOI、AXI、ICT 検査ソリューションをNEPCON China 2015 展覧会で展示します。 2015年4月21日～23日の期間に上海万博＆コンベンションセンターのホール 1 にある B-1F20 ブースにお越しいただければ、PCBA 検査における最新動向を個人的にご覧いただけます。

TRI の2015年ポートフォリオには、すばらしいコストパフォーマンスで最高の精密度を実現するように設計された新製品の TR7007Q ストップ＆ゴー SPI システムが含まれます。 また2015年には、他にも TRI の 3D AXI システム用の独自の CT アップグレートが発売開始され、3D CT 検査を当社の受賞歴のある X 線検査シリーズで実施することが可能になりました。 デモンストレーションされる検査およびテストの全製品には、並行テストによるインラインおよびデスクトップ配備用の高速 TR7500 SIII 3D AOI と、高評価を得ている TRI の ICT ソリューションが含まれます。

TRI の PCBA テストソリューション全製品ラインが、どのように連携して生産ラインに最高の価値をもたらし、生産コストを最小にするのかご覧ください。 SPI、AOI、AXI、MDA および ICT に至るまで、TRI システムは他社の製造装置と相互運用するように設計されており、中断時間を最小限にして、製品の品質を最適化し、オペレータの作業負荷を削減します。 B-1F20 ブースにお越しいただければ、TRI のソリューションラインアップを個人的にご覧いただけます。

TRI について

TRI は、自動テストおよび検査ソリューションにおいて、業界で最も堅牢な製品ポートフォリオを提供します。 はんだペースト検査 (SPI)、自動光学検査 (AOI)、3D 自動 X 線検査 (AXI) システムから製造上欠陥アナライザー (MDA)、回路内テスト装置にいたるまで、TRI は、広範囲にわたる製造テストおよび検査の要件を満たす非常に費用対効果の高いソリューションを提供します。 詳細は、http://www.tri.com.tw をご覧ください。販売およびサービス情報については、sales@tri.com.tw 宛にメールを送信していただくか、+886-2-28328918 まで電話でご連絡ください。