TRI が NEPCON Japan 2015 に最新の高性能試験＆検査をもたらします
[2014年12月16日 - 台北 (台湾)] 電子機器製造業界にテストおよび検査システムを提供する有数のプロバイダである Test Research, Inc. (TRI) は、 2015年1月14～16日に東京ビッグ サイトで間もなく開催される NEPCON Japan 2015 展示会で、新しい PCBA テストおよび検査ソリューションを展示します。
2015年製品ラインにおける主要製品には、超精密なクアッド プロジェクタ 3D SPI システムである TR7007Q、世界最速の 3D AOI システムであり検査性能と品質を最大限に発揮する設計が施された TR7500 SIII 3D および TR7600X SII 3D AXI ソリューションが含まれます。 検査製品ラインアップには、TRI のベストセラーである TR5001T SII TINY ICT および TINY SII INLINE 回路内テスターも含まれます。
NEPCON Japan での今年の製品ラインアップについて、 TRI の販売兼マーケティング担当副社長である Jim Lin は次のように述べています。「TRI では、カスタマイズされたインテリジェントな統合ソリューションに、革新的な技術と世界にまたがるサポートネットワークを組み合わせることで、お客様に実現できる限りの価値と性能を提供できるように全力で取り組んでいます。 当社の新しいソリューションでは、最良の性能をもたらしながらも、高い値打ちを提供し、様々な顧客の要望に答えることに重点を置いて取り組んでいます。」 |
TR7007Q 3D SPI
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TRI ブース EAST 23-28 (東 23-28) にお越しいただければ、TRI の統合テストおよび検査ソリューションを個人的に見学していただけます。 TRI の PCBA テストソリューション全製品ラインが、どのように連携して生産ラインに最高の価値をもたらし、生産コストを最小にするのかご覧ください。 SPI、AOI、AXI、MDA および ICT に至るまで、TRI システムは他社の製造装置と相互運用するように設計されており、中断時間を最小限にして、製品の品質を最適化し、オペレータの作業負荷を削減します。
TRI について
TRI は、自動テストおよび検査ソリューションにおいて、業界で最も堅牢な製品ポートフォリオを提供します。 はんだペースト検査 (SPI)、自動光学検査 (AOI)、3D 自動 X 線検査 (AXI) システムから製造上欠陥アナライザー (MDA)、回路内テスト装置にいたるまで、TRI は、広範囲にわたる製造テストおよび検査の要件を満たす非常に費用対効果の高いソリューションを提供します。
詳細は、http://www.tri.com.tw をご覧ください。販売およびサービス情報については、sales@tri.com.tw 宛にメールを送信していただくか、+886-2-28328918 まで電話でご連絡ください。
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