[2014年5月29日 - 台北 (台湾)] Test Research, Inc. (TRI) は、2014年6月26日にカリフォルニア州サンタ クララのホテル ビルトモアで、米国技術セミナーを主催します。 この1日イベントでは、業界で唯一の包括的な PCBA テストおよび検査ソリューション製品ラインにおける近年の技術イノベーションが紹介され、低い資本コスト、業界をリードする性能と世界クラスのサービスの観点から、TRI の受賞歴のあるシステムがメーカーに提供する価値を浮き彫りにします。
議題では、3D はんだペースト検査 (SPI) と 3D 自動光学検査 (AOI) における新開発に焦点が当てられ、その後 TRI の 3D AXI システムや基板テストソリューションの全製品に関するセッションで締めくくられます。これにはオンサイトで製品デモンストレーションが提供されるインラインおよびデスクトップ ICT が含まれます。
イベントへの登録をご希望の場合は、Fendi Lin (Fendi_Lin@tri.com.tw) までご連絡いただくか、詳細については電話で +1 (408) 567-9898 までご連絡ください。 議題やオンライン登録は、TRI のウェブサイトをご利用ください。
サンタ クララでお会いできることを楽しみにしています！
TRI 米国チーム
TRI について
TRI は、自動テストおよび検査ソリューションにおいて、業界で最も堅牢な製品ポートフォリオを提供します。 はんだペースト検査 (SPI)、自動光学検査 (AOI)、3D 自動 X 線検査 (AXI) システムから製造上欠陥アナライザー (MDA)、回路内テスト装置にいたるまで、TRI は、広範囲にわたる製造テストおよび検査の要件を満たす非常に費用対効果の高いソリューションを提供します。 詳細は、http://www.tri.com.tw をご覧ください。販売およびサービス情報については、sales@tri.com.tw 宛にメールを送信していただくか、+886-2-28328918 まで電話でご連絡ください。
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