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Test Research, Inc., gegründet im April 1989, ist einer der größten Hersteller
von „Automatisierten Optischen Inspektionsanlagen“ (AOI) und „In-Circuit-Testsytemen“
(ICT) für die Elektronik-, Informations- und Nachrichtenindustrie..... |
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2012 Events |
Jan. 18-20 Nepcon Japan
Feb. 28-Mar. 1 APEX Show
Apr. 25-27
Nepcon China
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Möglichkeiten die weit über den Standard hinausgehen, schnellere Entwicklung von Testprogrammen und optimierte Daten-Management- und Analysemöglichkeiten. Mit flexiblen und modularen Hardware- und Software Konfigurationen erfüllen „Board-Test“ Plattformen von TRI mühelos kundenindividuelle Testanforderungen im Rahmen effizienter, kostengünstigster Lösungskonzepte. |
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Der Einsatz unserer optischen Testsysteme ermöglicht das wirkungsvolle Aufspüren von Fehlern in der SMT Fertigung und trägt in hohem Maße zur Optimierung der Fertigungsprozesse bei. Unsere optische Testlinie beinhaltet sowohl die 3D Lotpasteninspektion (SPI) zur Ermittlung der Qualität von Lotpasten, als auch verschiedene Systeme zur Automatischen Optischen Inspektion (AOI), einsetzbar für Pre- und Post-Reflow-Inspektionen. Darüber hinaus umfasst die Testlinie auch die Automatische Optische Röntgen-Inspektion (AXI), geeignet für die Inspektion von BGAs sowie unzugänglicher Komponenten und Lötstellen. |
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TR9000 bringt bei der Prüfung unbestückter Leiterplatten modernste, optische Inspektionstechnologie zum Einsatz. Das System ist in der Lage, Leitungsunterbrechungen, Kurzschlüsse, Ausbrüche, Überstände sowie Bohrschäden an Leiterplatten präzise festzustellen. Inspiziert werden können starre, flexible und halbflexible Leiterplatten und ferner HDI-Schaltungen, deren CAM Design sich für Referenz-Testmethoden anbietet. TRI liefert maßgeschneiderte Lösungskonzepte für Hersteller von unbestückten Leiterplatten (Bare PCBs). Hohe Durchsatzraten und präzise Fehlererkennung werden durch den Einsatz moderner „line gauge“ und „image subtraction” Algorithmen gewährleistet. |
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Die TRI IC Tester zur Inspektion von Logik ICs sind in der Lage, funktionale „Testpattern“ und parametrisierte DC Tests auszuführen. Die TR6000-Produktreihe bietet eine benutzerfreundliche Bediener- und Programmier Oberfläche und zahlreiche Debugging- und Analyse Tools. Durch das kompakte integrierte Design und die umfangreichen Testmöglichkeiten stellt die TR6000 ein vielseitiges, optimiertes Lösungskonzept zur automatischen Prüfung von ICs dar. |
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Copyright © 2008 Test Research, Inc.
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