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In-Circuit-Tester (ICT)

TR8100LV

TR8100LV
  • TR8100LV
TR8100LV

INTRODUCTION

Entwickelt für das Testen großer und komplexer Platinen zielt das TR8100LV TRI Top-of-the-Line-Board-Test-System auf den Niederspannungs-Testmarkt. TR8100LVs Vakuumsystem sorgt für vollen Stiftkontakt und mit bis zu 3584 poligen Digital-MUX freier Architektur erlaubt das System schnellere und einfachere Prüfung von großen Pin-Count-Geräten und schnelle Programmentwicklung. *TRI ToggleScan® & "VregTest® Technologie kombiniert Boundary Scans mit Lösungen für begrenzten Testzugangsvorgänge. *"ToggleScan®" & "VregTest®" ist ein eingetragendes Warenzeichen von Test Research, Inc.
  •  • Digital 1:1 driver/receiver per pin architecture design
     • Testlösung für hohe Fehlerabdeckung mit Vacuum-Aufnahme
     • Niederspannungsgerätetests und hohe Testgeschwindigkeit
     • Freundliche Benutzeroberfläche mit schneller und einfacher Programmentwicklung